新聞資訊

在SMT生產(chǎn)過程中，有一種通用的防錯方式，它可以減少錯件的風(fēng)險，降低出錯的幾率，有效的提高整個生產(chǎn)的品質(zhì)，這種方式就是首件檢測機(jī)制，幾乎所有的SMT企業(yè)都會采取這種防錯機(jī)制。所謂的FAI首件檢測機(jī)制，就是在正式生產(chǎn)之前先打一片樣板，這片板子會進(jìn)行的測試，在所有測試都通過之后，才開始正式大批量生產(chǎn)，首件檢測方法在SMT生產(chǎn)過程中扮演著至關(guān)重要的角色，它有助于確保產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性。根據(jù)現(xiàn)有的資料，SMT首件檢測方法主要包括以下幾種：

1. 人工目檢

方法描述：人工目檢是最傳統(tǒng)的檢測方法之一，通過肉眼檢查每個元件和焊點(diǎn)是否符合規(guī)格。

優(yōu)點(diǎn)：成本低，無需特殊設(shè)備。

缺點(diǎn)：操作耗時多，易疲勞，且錯誤率較高，特別是在處理大量焊接處時不夠精準(zhǔn)。

2. 自動光學(xué)檢測（AOI）

方法描述：利用機(jī)器視覺技術(shù)，通過CCD照相獲取器件或PCB的圖像，然后經(jīng)過計算機(jī)處理和分析比較來判斷缺陷和故障。

優(yōu)點(diǎn)：檢測速度快，編程時間較短，可以及時發(fā)現(xiàn)故障和缺陷，使生產(chǎn)、檢測合二為一。

缺點(diǎn)：不能檢測電路屬性，如電路錯誤，且對不可見焊點(diǎn)檢測不到。

3. X-Ray檢測

方法描述：利用X射線的穿透性對電路板進(jìn)行無損檢測，特別是針對BGA、CSP等封裝元器件的隱藏焊點(diǎn)。

優(yōu)點(diǎn)：可以顯示焊點(diǎn)的厚度、形狀及焊接品質(zhì)，進(jìn)行定性、定量分析，有助于及早發(fā)現(xiàn)問題。

應(yīng)用場景：適用于需要檢測隱藏焊點(diǎn)的電路板。c

4. LCR量測（電橋測試）

方法描述：適用于簡單的電路板，通過測量電路板上的元器件（如電阻、電容）的電氣參數(shù)，與BOM上的額定值進(jìn)行對比。

優(yōu)點(diǎn)：成本低廉，操作簡便。

應(yīng)用場景：適用于元器件較少、沒有集成電路的電路板。

5. FAI首件測試系統(tǒng)

方法描述：由一套FAI軟件主導(dǎo)整合的LCR電橋構(gòu)成，將生產(chǎn)的產(chǎn)品BOM導(dǎo)入系統(tǒng)中，使用電橋夾具對首件樣板元件進(jìn)行測量，并與輸入的BOM數(shù)據(jù)核對。

優(yōu)點(diǎn)：測試過程軟件可以通過圖形或語音化展示結(jié)果，減少誤測試，節(jié)約人力成本。

缺點(diǎn)：先期投入較大。

6. 飛針測試

方法描述：通過測量兩個固定點(diǎn)位之間的阻值大小，來確定電路板中的元器件是否存在短路、空焊、錯件等問題。

優(yōu)點(diǎn)：測試方便，程序可變性強(qiáng)，通用性好。

缺點(diǎn)：測試效率較低，每片板子的測試時間較長。

7. ICT測試

方法描述：通常使用在已經(jīng)量產(chǎn)的機(jī)種上，通過特制的夾具和測試程序來檢測電路板上的元器件和連接情況。

優(yōu)點(diǎn)：測試效率高，適合大批量生產(chǎn)。

缺點(diǎn)：制造成本大，每個型號的電路板需要特制的夾具。

8. 功能測試（FCT）

方法描述：在電路板焊接完成后，通過特定的治具模擬電路板的正式使用場景，接通電源后觀察電路板是否可以正常使用。

優(yōu)點(diǎn)：可以精確判定電路板的功能是否正常。

缺點(diǎn)：測試效率不高，測試成本高昂，且如果線路板焊接有短路而未提前檢查出來，則有燒板的風(fēng)險。

9. 小型字符檢查法

方法描述：使用不同顏色和標(biāo)簽標(biāo)記電子設(shè)備中的不同元件，以便在后續(xù)操作中更容易識別和比較。

優(yōu)點(diǎn)：防止元件混淆，提高安裝速度和降低錯誤率。

綜上所述，SMT首件檢測方法多種多樣，企業(yè)可以根據(jù)實(shí)際生產(chǎn)需求和產(chǎn)品特點(diǎn)選擇合適的檢測方法。隨著技術(shù)的不斷進(jìn)步，新的檢測方法也在不斷涌現(xiàn)，為SMT生產(chǎn)提供了更多的選擇和保障。